应科研院校，高校，低成本解决方案，基本等于免费的测试软件
支持光谱亮度计PR655,PR788,PR670,PR730,PR730等PR系列，CS2000,CS2000A,CS200等柯尼卡美能达，BM7,SR-3A,SR-UL1R,BM5AS等topcon系列
支持源表：KEITHLEY2400,2635B,2450等KEITHLEY系列
软件支持开发定制，低成本，适合没有科研经费的老师和同学
设备简易结构图XYZ调整平台
通用性产品夹具
软件主界面
测试波形图显示界面
光谱显示界面
测试数据界面
详细方案介绍参考：
链接：/s/1uBSiyFcPKmhgNyXnCGFxIg
提取码：en0i
单片OLED器件IVL测量
系统概述
对于OLED科研类机构用户，仅考虑测试功能和精度，不考虑测试效率的情况下，可选择单工位的IVL及视角测试系统。与多工位机台相比，仅保留一个带视角的工位和治具，机台尺寸更紧凑。同时可取消选配工业视觉对位相机。
软件介绍
I-V-L曲线测量的设定
1.可以设定起始电压、终止电压、电压步长，进行连续的测量
2.可以设定起始电流密度、终止电流密度、电流密度步长，进行连续测量
3.可以单独设定电流密度的亮度检测下限值，低于下限值时仅测电流电压，超过下限值后同时测电压电流亮度等数据
4.可以设定并保存设定的机种参数，下次测量时可以直接调用
I-V-L的测量数据
测量的结果包括：亮度L(cd/m2)，电流效率(mA/cm2)，发光效率，外量子效率，色坐标(x，y)，色温，显色指数CRI，发光光谱.
输出的测量项报表中的图表包括：Cdens-V，Cdens-L，Cdens-LumE，Cdens-EQE，CIE1931，Spectra
